一、
高溫試驗(yàn)箱型號(hào)的溫度和環(huán)境濕度是危害儀器設(shè)備特性的關(guān)鍵要素，其能夠造成機(jī)械零部件的生銹，使金屬材料鏡面玻璃的光滑度降低，造成高溫試驗(yàn)箱型號(hào)一部分的偏差或特性降低；導(dǎo)致高溫試驗(yàn)箱型號(hào)電子光學(xué)構(gòu)件如光纖傳感器、反射鏡片、聚光鏡等的鋁膜生銹，造成聚光不夠、雜散光眼、噪音等，乃至儀器設(shè)備終止工作中，進(jìn)而危害高溫試驗(yàn)箱型號(hào)的使用壽命，維修保養(yǎng)時(shí)要多方面效正。
二、使用高溫試驗(yàn)箱型號(hào)的環(huán)境中的浮塵和腐蝕汽體亦能夠危害機(jī)械結(jié)構(gòu)的協(xié)調(diào)能力、減少各種各樣行程開(kāi)關(guān)、功能鍵、光學(xué)偶合器的可信性，都是導(dǎo)致務(wù)必學(xué)構(gòu)件鋁膜生銹的緣故之一。
三、應(yīng)用高溫試驗(yàn)箱型號(hào)一定周期時(shí)間后，內(nèi)部會(huì)累積一定量的浮塵，最好由檢修技術(shù)工程師或在技術(shù)工程師具體指導(dǎo)下按時(shí)打開(kāi)高溫試驗(yàn)箱型號(hào)罩殼對(duì)內(nèi)部開(kāi)展除灰工作中，另外將各發(fā)燙元器件的熱管散熱器再次擰緊，對(duì)電子光學(xué)盒的密封性對(duì)話框開(kāi)展清理，必需時(shí)對(duì)它進(jìn)行校正，對(duì)機(jī)械設(shè)備一部分開(kāi)展清理和必需的潤(rùn)化，最終，恢復(fù)正常，再開(kāi)展一些必需的檢驗(yàn)、校準(zhǔn)與紀(jì)錄。
四、高溫試驗(yàn)箱型號(hào)的空調(diào)蒸發(fā)器起霜的緣故：
(1)常常開(kāi)啟環(huán)境試驗(yàn)箱門(mén)。
(2)查驗(yàn)箱體是不是有漏汽難題。
